ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕ

REDIRECT Template:Infobox laboratory equipment

ಸಂಯುಕ್ತ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕ (Compound Microscope (cropped)

ಈ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕ ವು ( Greek: μικρός , ಮೈಕ್ರೋಸ್ , "ಸೂಕ್ಷ್ಮ" ಮತ್ತುσκοπεῖν, ಸ್ಕೋಪೆನ್ , "ವೀಕ್ಷಿಸು" ಅಥವಾ "ನೋಡು" ನಿಂದ) ಬರಿಯ ಕಣ್ಣಿಗೆ ಕಾಣಿಸದ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ವಸ್ತುಗಳನ್ನು ನೋಡಲು ಬಳಸುವ ಉಪಕರಣವಾಗಿದೆ. ಈ ಉಪಕರಣ ಉಪಯೋಗಿಸಿ ಸಣ್ಣ ವಸ್ತುಗಳನ್ನು ಪರೀಕ್ಷಿಸುವ ವಿಜ್ಞಾನಕ್ಕೆ (ವಿಧಾನಕ್ಕೆ)ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶನ (ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ) ಎಂದು ಕರೆಯಲಾಗುತ್ತದೆ. ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕೀಯ(ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿಕ್) ಎಂದರೆ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕದ ಸಹಾಯವಿಲ್ಲದೇ ಕಣ್ಣಿಗೆ ಕಾಣಿಸದಿರುವುದು.

ಇತಿಹಾಸ[ಬದಲಾಯಿಸಿ]

ಮೊದಲಿನ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕವನ್ನು 1590ರಲ್ಲಿ ನೆದರ್ ಲ್ಯಾಂಡ್ನಮಿಡಲ್ ಬರ್ಗನಲ್ಲಿ ಸಿದ್ದಪಡಿಸಲಾಯಿತು.^[೧] ಕನ್ನಡಕ ತಯಾರಿಸುವ ಇಬ್ಬರಿಗೆ ಈ ಖ್ಯಾತಿ ಸಲ್ಲುತ್ತದೆ:ಹ್ಯಾನ್ಸ್ ಲಿಪ್ಪರ್ ಶೆ ( ಮೊದಲಿನ ದೂರದರ್ಶಕ(ಟೆಲಿಸ್ಕೋಪ್)ವನ್ನು ಕಂಡುಹಿಡಿದವನು) ಮತ್ತು ಹ್ಯಾನ್ಸ್ ಜಾನ್ ಸೇನ್ಕೂಡ ಇದಕ್ಕೆ ಭಾಜನನಾಗಿದ್ದಾನೆ. ಜಿಯೋವನ್ನಿ ಫ್ಯಾಬರ್ ಗೆಲಿಲಿಯೋ ಗೆಲಿಲೈ ಸಂಯುಕ್ತ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕಕ್ಕೆ 1625 ರಲ್ಲಿ ನಾಮಕರಣ ಮಾಡಿದನು.^[೨] (ಗೆಲಿಲಿಯೋವನ್ನು "ಒಕಿಒಲಿನೋ " ಅಥವಾ "ಪುಟ್ಟಕಣ್ಣು "ಎಂದು ಕರೆಯಲಾಯಿತು.)

ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕದ ಸಹಾಯದಿಂದ ಕಂಡುಹಿಡಿಯಲಾದ ಜೀವಂತ ಜೀವಕೋಶಗಳ ಮೊಟ್ಟ ಮೊದಲ ಒಳಗಿನ ರಚನೆಯ ವಿವರ 1664 ರವರೆಗೆ ಗಿಯಾಮ್ ಬಟಿಸ್ಟ ಒಡಿಅರ್ನ್ಸ್ ಅಲ್ ಒಚಿಯೋ ಡೆಲ್ಲಾ ಮೊಸ್ಕ ಅಥವಾ ದಿ ಫ್ಲೈಸ್ ಐ ನಲ್ಲಿ ಕಾಣಿಸಿರಲಿಲ್ಲ.^[೩]

ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕವನ್ನು ಇಟಲಿ , ಹಾಲ್ಯಾಂಡ್ , ಇಂಗ್ಲೆಂಡ್ ನಲ್ಲಿ 1660 ಮತ್ತು 1670 ರ ವರೆಗೆ ವ್ಯಾಪಕವಾಗಿ ಬಳಸಿರಲಿಲ್ಲ. ಇಟಲಿಯಲ್ಲಿ ಮಾರ್ಸೆಲೊ ಮಾಲ್ ಫಿಗಿ ಎಂಬುವವನು ಜೀವ ವಿಜ್ಞಾದ ರಚನೆಗಳ ವಿಷ್ಲೇಶಣೆಯನ್ನು ಶ್ವಾಸಕೋಶದಿಂದ ಪ್ರಾರಂಭಿಸಿದ. ಇದರ ಪರಿಣಾಮಕಾರಿ ವಿವರಣೆಯಿಂದ ರಾಬರ್ಟ್ ಹುಕ್ಕ್ಸ್ ನ ಮೈಕ್ರೋಗ್ರಫಿ ಯು ಹೆಚ್ಚು ಪ್ರಭಾವ-ಪರಿಣಾಮಕ್ಕೆ ಒಳಗಾಯಿತು. ಆಟೋನಿ ವ್ಯಾನ್ ಲೀವೆನ್ ಹೊಎಕ್ ಕೆಂಪು ರಕ್ತ ಕಣಗಳು ಮತ್ತು ರೇತ್ರ(ಸ್ಪರ್ಮ್ ಟೋ ಸೋಯಾ )ಗಳನ್ನು ಕಂಡುಹಿಡಿದು, ಅತ್ಯಂತ ದೊಡ್ಡ ಕೊಡುಗೆಯನ್ನು ನೀಡಿದ. ಆಕ್ಟೋಬರ್ 9 1676 ರಲ್ಲಿ ಲೀವೆನ್ ಹೊಎಕ್ ^[೩] ಸೂಕ್ಷ್ಮ- ಜೀವಿಗಳ (ಮೈಕ್ರೋ ಆರ್ಗ್ಯಾನಿಸಮ್) ಆವಿಷ್ಕಾರವನ್ನು ಬಹಿರಂಗಪಡಿಸಿದನು.^[೩]

ಮೊದಲು ಕಂಡುಹಿಡಿದ ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕ (ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪ್ ) ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕದ ಅತ್ಯಂತ ಸಾಮಾನ್ಯ ಮಾದರಿಯಾಗಿದೆ. ಇದು(ದೃಷ್ಟಿ) ದೃಗ್ಉಪಕರಣ(ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಇನ್ ಸ್ಟ್ರುಮೆಂಟ್ )ವಾಗಿದೆ. ಒಂದು ಅಥವಾ ಅದಕ್ಕಿಂತ ಹೆಚ್ಚು ಮಸೂರವನ್ನು ಹೊಂದಿದೆ. ಅಲ್ಲದೇ ಮಸೂರದ ನಾಭಿಸಮತಲದಲ್ಲಿ ಇಟ್ಟಿರುವ ವಸ್ತುವನ್ನು ದೊಡ್ಡ ರೂಪದಲ್ಲಿ ತೋರಿಸುತ್ತದೆ.

ವಿಧಗಳು[ಬದಲಾಯಿಸಿ]

ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕಗಳ ವಿಧಗಳು

"ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕಗಳನ್ನು" ದೃಗ್ ಸಿದ್ಧಾಂತದ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ(ಬೆಳಕಿನ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ)ಗಳಾಗಿ ವಿಂಗಡಿಸಬಹುದು. ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕಗಳು (ಉದಾಹರಣೆಗೆ TEM) ಮತ್ತು ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಪ್ರೋಬ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳು( ಉದಾಹರಣೆಗೆ SPM) ಇತ್ಯಾದಿ. ಸ್ಯಾಂಪಲ್ ನಿಂದ ತರಂಗ ಹಾದು ಹೋಗುವ ಮೂಲಕ ರೂಪಿಸಿದ ಚಿತ್ರವನ್ನು ದೊಡ್ಡದಾಗಿ ಕಾಣುವ ಹಾಗೆ ಮಾಡಲು ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕಗಳು ಮಸೂರಗಳ ದೃಗ್(ದೃಷ್ಟಿ) ಸಿದ್ಧಾಂತದ ಮೂಲಕ ಕಾರ್ಯನಿರ್ವಹಿಸುತ್ತವೆ. ಬಳಸುವ ತರಂಗಳು ವಿದ್ಯುತ್ಕಾಂತೀಯ (ಎಲೆಕ್ಟ್ರೊ ಮ್ಯಾಗ್ನೇಟಿಕ್) ( ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕಗಳಲ್ಲಿ) ಅಥವಾ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ದಂಡ (ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕಗಳಲ್ಲಿ). ಇದರ ವಿಧಗಳು ಮಿಶ್ರ ಬೆಳಕಿನ, ಸ್ಟಿರಿಯೋ, ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನಿಕ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕಗಳಾಗಿವೆ.

ದೃಗ್ವೈಜ್ಞಾನಿಕ(ದೃಷ್ಟಿಗೆ ಸಂಬಂಧಿಸಿದ) ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳು[ಬದಲಾಯಿಸಿ]

(ದೃಷ್ಟಿ) ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕಗಳು ಬಳಸುವ ಗೋಚರಿಸುವ ಬೆಳಕಿನ ತರಂಗದೂರ(ವೇವ್ ಲೆನ್ತ್ ) ಸರಳವಾಗಿಯಲ್ಲದೇ ಹೆಚ್ಚಾಗಿ ಉಪಯೋಗಿಸಲ್ಪಟ್ಟಿದೆ. ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕಗಳು ವಕ್ರೀಕಾರಕ ಮಸೂರವನ್ನು ಹೊಂದಿರುತ್ತವೆ. ಮತ್ತೊಂದು ಬೆಳಕನ್ನು ಪತ್ತೆ ಹಚ್ಚುವ ಸಾಧನವಾಗಿ ಅಥವಾ ಕಣ್ಣಿನ ಹತ್ತಿರಕ್ಕೆ ಬೆಳಕನ್ನು ಕೇಂದ್ರಿಕರಿಸಲು ಯಾವಾಗಲಾದರೂ ಪ್ಲಾಸ್ಟಿಕ್ ಅಥವಾ ಸ್ಫಟಿಕವನ್ನು ಹೊಂದಿರುತ್ತವೆ. ಕನ್ನಡಿ ಆಧಾರಿತ ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕಗಳೂ ಕೂಡ ಇದೆ ರೀತಿಯಲ್ಲಿ ಕಾರ್ಯ ನಿರ್ವಹಿಸುತ್ತವೆ. ಬೆಳಕು ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕದ ಸಾಮಾನ್ಯ ವರ್ಧಿಸುವಿಕೆ 1500x ವರೆಗೆ ಗೋಚರಿಸುವ ಬೆಳಕನ್ನು ತೆಗೆದುಕೊಳ್ಳುತ್ತದೆ. ಅಲ್ಲದೇ ಸೈದ್ಧಾಂತಿಕ ಪೃಥಕರಣ(ಮ್ಯಾಗ್ನಿಫಿಕೇಶನ್ ) ಸಾಮರ್ಥ್ಯದ ಪರಿಮಿತಿ 200 ನ್ಯಾನೋ ಮೀಟರ್ಸ್ ಅಥವಾ 0.2 ಮೈಕ್ರೋ ಮೀಟರ್ಸ್ ಗಳ ವರೆಗೆ ತೆಗೆದುಕೊಳ್ಳುತ್ತದೆ. ವಿಶಿಷ್ಟವಾಗಿರುವ ವಿಧಾನಗಳು( ಉದಾಹರಣೆಗೆ ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಕಾನ್ ಫೋಕಾಲ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶನ, ವರ್ಟಿಕೊ SMI); ಈ ವರ್ಧನೆಯನ್ನು ಮೀರಬಹುದು, ಆದರೆ ಪೃಥಕ್ಕರಣದ ವಿವರ್ತನೆ(ರೆಸಲ್ಯೂಷನ್) ಪರಿಮಿತಿಯಲ್ಲಿರುತ್ತದೆ. ಬೆಳಕಿನ ಕಡಿಮೆ ತರಂಗದೂರದ ಉಪಯೋಗಳು ಉದಾಹರಣೆಗೆ: ಇವು ನೇರಳಾತೀತವಾಗಿವೆ. ಇದು ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕದ ಹಾಗು ಸಾಧನಗಳು ಉದಾಹರಣೆಗೆ ಗುರುತ್ವಾಕರ್ಷಣ ಪ್ರಭಾವಿರುವ ಪ್ರದೇಶದ ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದ ದೈಶಿಕ ವಿವರ್ತನೆಯನ್ನು ಹೆಚ್ಚಿಸುವ ಒಂದು ಬಗೆಯಾಗಿದೆ.
ಸರ್ ಫಸ್ ಹೊಸದಾದ ದೃಗ್ ವಿಧಾನವಾಗಿದೆ. ಇದು ನ್ಯಾನೋಮೆಟ್ರಿಕ್ ಫಿಲ್ಮ್ಸ್ ಗಳನ್ನು ( 0.3 ಗೆ ಕಡಿಮೆ ನ್ಯಾನೋಮೀಟರ್) ಮತ್ತು ಪ್ರತ್ಯೇಕವಾದ ನ್ಯಾನೋ ವಸ್ತುಗಳನ್ನು(2ಗೆ ಕಡಿಮೆnm-ಡಯಾಮೀಟರ್) ನೇರವಾಗಿ ನೋಡಲು ಸಾಧ್ಯವಾಗಿಸುವ ಮೂಲಕ ಉತ್ತಮ ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದ ಸೂಕ್ಷ್ಮತೆಯನ್ನು ಹೆಚ್ಚಿಸುತ್ತದೆ. ಈ ವಿಧಾನವು ವಿರುದ್ಧ-ಧ್ರುವೀಕರಿಸಿ ಪ್ರತಿಫಲಿಸಿದ ಬೆಳಕಿನ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದೂರದರ್ಶನಕ್ಕಾಗಿ ಪ್ರತಿಫಲಿಸದ ತಲಾಧಾರದ ಬಳಕೆಯ ಮೇಲೆ ನಿಂತಿದೆ.

CBP ಕಚೇರಿಯ ಫೀಲ್ಡ್ ಆಪರೇಷನ್ ಪ್ರತಿನಿಧಿಗಳು ಅಂತರರಾಷ್ಟ್ರೀಯ ವಿಮಾನ ನಿಲ್ಡಾಣದಲ್ಲಿ ಪ್ರವಾಸ ಪತ್ರ ಪ್ರಮಾಣಿಸಲ್ಪಟ್ಟಿರುವುದನ್ನು ಪರಿಶೀಲಿಸಲು ಸ್ಟಿರಿಯೋ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕವನ್ನು ಉಪಯೋಗಿಸುತ್ತಾರೆ.

ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕೀಯದ ವಿವರ್ತನೆಯ ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳನ್ನು ನೇರಳಾತೀತ ಬೆಳಕು ಸಕ್ರಿಯಗೊಳಿಸುತ್ತದೆ. ಉದಾಹರಣೆಗೆ ಚಿತ್ರದ ಮಾದರಿಗಳು ಕಣ್ಣಿಗೆ ಪಾರದರ್ಶಕವಾಗಿವೆ. ಅವರಕ್ತ (ವಿಕಿರಣ) ಬೆಳಕಿನ ಚಿತ್ರದ ಹತ್ತಿರ ವಿದ್ಯುನ್ಮಂಡಲದ ಘಟಕವನ್ನು ಸಿಲಿಕಾನ್ ಡಿವೈಸ್ ನಲ್ಲಿ ಇಡಲಾಗುತ್ತದೆ. ಈ ಪ್ರದೇಶದಲ್ಲಿ ಸಿಲಿಕಾನ್ ಪಾರದರ್ಶಕವಾಗಿದೆ. ನೇರಳಾತೀತ ದಿಂದ ಕಣ್ಣಿಗೆ ಕಾಣುವ ಬೆಳಕಿನಲ್ಲಿ ಇರುವ ಅನೇಕ ತರಂಗದೂರಗಳು ಪ್ರತಿದೀಪ್ತಿಯನ್ನು ಕಣ್ಣಿನಲ್ಲಿ ನೋಡುವ ವಸ್ತುಗಳಿಗೆ ಅಥವಾ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ಕ್ಯಾಮರಾಗಳಿಗೆ ಹೊರಸೂಸುವಂತೆ ಪ್ರಚೋದಿಸುತ್ತದೆ.

ವೈದೃಶ್ಯ ಅವಸ್ಥೆಯ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶನವು ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶನದ ದೀಪನ(ಇಲ್ಯೂಮಿನೆಷನ್ ) ವಿಧಾನವಾಗಿದೆ. ಪಾರದರ್ಶಕದ ನಮೂನೆಯಲ್ಲಿ ಹರಿಯುವ ಬೆಳಕಿನಲ್ಲಿ ಸಣ್ಣ ಅವಸ್ಥೆಯ ಪರಿವರ್ತನೆ ವೈಶಾಲ್ಯವಾಗಿ ಅಥವಾ ಚಿತ್ರದಲ್ಲಿ ವಿರುದ್ಧ ಬದಲಾವಣೆಯಾಗಿ ಬದಲಾಗುತ್ತದೆ. ರಚನೆ ಸ್ಪಷ್ಟವಾಗಿ ಕಾಣುವಂತೆ ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಭಾಗಕ್ಕೆ ಬಣ್ಣ ಕೂಡಿಸಲು ವೈದೃಶ್ಯ ಅವಸ್ಥೆಯ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕದ ಅವಶ್ಯಕತೆ ಇಲ್ಲ. ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕವು ವಿದ್ಯುತ್ಕೋಶ ಆವರ್ತವನ್ನು ಅಧ್ಯಯನ ಮಾಡುವಂತೆ ಮಾಡಿತು.

ಸಾಂಪ್ರದಾಯಿಕ ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕಗಳನ್ನು ಇತ್ತೀಚೆಗಷ್ಟೇ ಡಿಜಿಟಲ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕಗಳಾಗಿ ಬದಲಾಯಿಸಲಾಗಿದೆ. ಇಲ್ಲಿ ವಸ್ತುವನ್ನು ನೇರವಾಗಿ ನೋಡುವ ಬದಲು, ವಿದ್ಯುತ್ ಪೂರಣ- ಯುಗ್ಮಗಳ ಸಾಧನ(CCD) ಚಿತ್ರವನ್ನು ದಾಖಲಿಸಲು ಉಪಯೋಗಿಸಲಾಗುವುದರಿಂದ ಕಂಪ್ಯೂಟರ್ ಮಾನಿಟರ್ ನಲ್ಲಿ ತೋರಿಸಲ್ಪಡುತ್ತದೆ.

ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ /ವಿದ್ಯುತ್ಕಾಂತ[ಬದಲಾಯಿಸಿ]

ಪ್ರಮುಖ ಮೂರು ವಿಭಿನ್ನ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳಿವೆ:

ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕ (SEM): ಅತ್ಯುತ್ತಮ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ದಂಡದ ಮತ್ತು ಪಾರದರ್ಶಕತೆಯನ್ನು ಅಳೆಯುವ ಮೂಲಕ ಮೇಲ್ಮೈ ಸ್ಕ್ಯಾನ್ ಮಾಡಿ ವಸ್ತುವಿನ ಮೇಲ್ಮೈಯನ್ನು ನೋಡುವುದು. ಇದನ್ನುರೋಹಿತದರ್ಶನ(ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಟ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ) ಕ್ಕೂ ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಪರಿಸರವನ್ನು ಸ್ಕ್ಯಾನ್ ಮಾಡುವ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಿವನ್ನು ನೋಡಿ
ಟ್ರಾನ್ಸ್ ಮಿಶನ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕ (TEM): ಮಾದರಿಯ ಮೂಲಕ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಗಳನ್ನು ಸಂಪೂರ್ಣವಾಗಿ ಸಾಗಿಸುತ್ತದೆ. ಇದು ಮೂಲ ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶನವನ್ನು ಹೋಲುವಂತಿದೆ. ಇಲ್ಲಿ ಬಹು ಮಟ್ಟಿನ ಎಲ್ಲಾ ವಸ್ತುಗಳಲ್ಲಿ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ವಿಚಲಿಸುವುದರಿಂದ ಎಚ್ಚರಿಕೆಯಿಂದ ಮಾದರಿಯನ್ನು ತಯಾರಿಸಬೇಕು.ಇದೊಂದು ವೈಜ್ಞಾನಿಕ ಸಾಧನವಾಗಿದೆ. ಇದು ಬರಿಕಣ್ಣಿನಿಂದ ಕಾಣಲು ಸಾಧ್ಯವಿಲ್ಲದ ಮತ್ತು ಕಣ್ಣಿನ ಸಾಧನವಿಲ್ಲದೇ ವಸ್ತುವನ್ನು ನೋಡಲು ಅವಕಾಶಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತದೆ.
ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಟ್ಯೂನಲಿಂಗ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕ (STM):ಇದು ಮೇಲ್ಮೈಯನ್ನು ಪರಮಾಣು ಹಂತದಲ್ಲಿ ನೋಡಲು ಇರುವಂತಹ ಶಕ್ತಿ ಶಾಲಿ ತಾಂತ್ರಿಕ ವಿಧಾನವಾಗಿದೆ.

SEM ಮತ್ತು STMಗಳನ್ನು ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಪ್ರೋಬ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶನಕ್ಕೂ ಕೂಡ ಉದಾಹರಣೆಯಾಗಿ ಪರಿಗಣಿಸಬಹುದು.

ಸ್ಕ್ಯಾನ್ ಮಾಡುವ ಶೋಧಕ (ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಪ್ರೋಬ)[ಬದಲಾಯಿಸಿ]

AFM, ಆಟೋಮಿಕ್ ಫೋರ್ಸ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
BEEM, ಬ್ಯಾಲಿಸ್ಟಿಕ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಎಮಿಷನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
EFM, ಎಲೆಕ್ಟ್ರೋ ಸ್ಟ್ಯಾಟಿಕ್ ಫೋರ್ಸ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪ್
ESTM ಎಲೆಕ್ಟ್ರೋಕೆಮಿಕಲ್ ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಟ್ಯೂನಲಿಂಗ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪ್
FMM, ಫೋರ್ಸ್ ಮಾಡ್ಯೂಲೇಷನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
KPFM, ಕೆಲ್ವಿನ್ ಪ್ರೋಬ್ ಫೋರ್ಸ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
MFM, ಮ್ಯಾಗ್ನೆಟಿಕ್ ಫೋರ್ಸ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
MRFM, ಮ್ಯಾಗ್ನೆಟಿಕ್ ರೆಸೊನೆನ್ಸ್ ಫೋರ್ಸ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
NSOM, ನಿಯರ್-ಫೀಲ್ಡ್ ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ (or SNOM, ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ನಿಯರ್-ಫೀಲ್ದ್ ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ)
PFM, ಪೈಜೊ ಫೋರ್ಸ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
PSTM, ಫೋಟಾನ್ ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಟ್ಯೂನಲಿಂಗ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
PTMS, ಪೋಟೋತರ್ಮಲ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ/ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
SAP, ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಆಟಮ್ ಪ್ರೋಬ್^[೪]
SECM, ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರೋಕೆಮಿಕಲ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
SCM, ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಕ್ಯಾಪ್ಸಿಟೆನ್ಸ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
SGM, ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಗೇಟ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
SICM, ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಐಅನ್-ಕಂಡಕ್ಟೆನ್ಸ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
SPSM ಸ್ಪಿನ್ ಪೋಲರೈಸ್ಡ್ ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಟ್ಯೂನಲಿಂಗ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
SThM, ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಥರ್ಮಲ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ^[೫]/annurev.matsci.29.1.505]
STM, ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಟ್ಯೂನಲಿಂಗ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
SVM, ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ವೊಲ್ಟೇಜ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
SHPM, ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಹಾಲ್ ಪ್ರೋಬ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
SSM, ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಸ್ಕ್ವೆಯ್ಡೆ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ

ಈ ವಿಧಾನಗಳಲ್ಲಿ AFM ಮತ್ತು STM ಗಳನ್ನು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಉಪಯೋಗಿಸಲಾಗುವುದು. ಅಲ್ಲದೇ ಇದು MFM ಮತ್ತು SNOM/NSOM ಗಳಿಂದ ಅನುಸರಿಸಲ್ಪಡುವುದು.

೨೦೧೮ ರ ಹೊಸ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕ ಅವಿಷ್ಕಾರ[ಬದಲಾಯಿಸಿ]

ಫೋಲ್ಡ್‍ ಸ್ಕೋಪ್‍ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕ: ಪಾಲಿ–ಪ್ರೊಪಿಲೀನ್ ಪದರವನ್ನು ಒಳಗೊಂಡ ಕಾಗದದ ‘ಫೋಲ್ಡ್‌ಸ್ಕೋಪ್’, ದೊಡ್ಡ ಹಾಳೆಯ ರೂಪದಲ್ಲಿರುತ್ತದೆ. ಅದರೊಂದಿಗೆ ನೀಡಿರುವ ಸೂಚನೆಗಳನ್ನು ಅನುಸರಿಸಿ, ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದ ವಿವಿಧ ಭಾಗಗಳನ್ನು ಬಿಡಿಸಿಕೊಂಡು ಕ್ರಮವಾಗಿ ಜೋಡಿಸಿದರೆ ‘ಫೋಲ್ಡ್‌ಸ್ಕೋಪ್’ ಸಿದ್ಧವಾಗುತ್ತದೆ.ಇದು ಕಡಿಮೆ ವೆಚ್ಚದಲ್ಲಿ ಕಾಗದ ಬಳಸಿ ರೂಪಿಸಿದ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ. ^[೬]

ಇತರೆ[ಬದಲಾಯಿಸಿ]

ರೆಪ್ಲಿಕಾ ಆಫ್ ಮೈಕ್ರೋಸಾಫ್ಟ್ ವ್ಯಾನ್ ಲೀವೆನ್ಹೊಕ್ ನಿಂದ

ವಿಭಿನ್ನ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕಗಳು

ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಅಕೂಸ್ಟಿಕ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕಗಳು ಅಕೂಸ್ಟಿಕ್ ರೋಧತ್ವ(ಇಮ್ ಪೆಡೆನ್ಸ್)ದಲ್ಲಿ ವ್ಯತ್ಯಾಸವನ್ನು ಮಾಪನ ಮಾಡಲು ಶಬ್ದ ತರಂಗವನ್ನು ಬಳಸುತ್ತವೆ. ಜಲಾಂತರ ಶಬ್ದ ಶೋಧ(ಸೋನಾರ್)ದಂತೆಯೇ ಅವುಗಳನ್ನು ಅನುಕಲಿತ ಸರ್ಕೀಟು (ಇಂಟಿಗ್ರೇಟೆಡ್ ಸರ್ಕೀಟ್) ನಲ್ಲಿ ಸಿಗುವಂತಹ ವಸ್ತುಗಳನ್ನು ಸೇರಿಸಿದಂತೆ ವಸ್ತುಗಳ ಉಪ ಮೇಲ್ಮೈನಲ್ಲಿ ಇರುವ ನ್ಯೂನತೆ ಕಂಡುಹಿಡಿಯಲು ಬಳಸಲಾಗುವುದು.

ಇದನ್ನೂ ನೋಡಿ[ಬದಲಾಯಿಸಿ]

ಉಲ್ಲೇಖಗಳು[ಬದಲಾಯಿಸಿ]

↑ "Microscopes: Time Line". Nobel Web AB. Retrieved 2010-01-27.
↑ Gould, Stephen Jay (2000). "Chapter 2: The Sharp-Eyed Lynx, Outfoxed by Nature". The Lying Stones of Marrakech: Penultimate Reflections in Natural History. New York, N.Y: Harmony. ISBN 0-224-05044-3.
↑ ^೩.೦ ^೩.೧ ^೩.೨ Wootton, David (2006). Bad medicine: doctors doing harm since Hippocrates. Oxford [Oxfordshire]: Oxford University Press. ISBN 0-19-280355-7.
↑ Morita S (2006). Roadmap of Scanning Probe Microscopy. NanoScience and Technology. Berlin: Springer. ISBN 3-540-34314-8.
↑ Majumdar A (1999). "Scanning Thermal Microscopy". Annual Review of Materials Science. 29: 505–85.^{[ಶಾಶ್ವತವಾಗಿ ಮಡಿದ ಕೊಂಡಿ]}
↑ ಇದು ಕಡಿಮೆ ವೆಚ್ಚದಲ್ಲಿ ಕಾಗದ ಬಳಸಿ ರೂಪಿಸಿದ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ ‘ಫೋಲ್ಡ್‌ಸ್ಕೋಪ್’

ಬಾಹ್ಯ ಕೊಂಡಿಗಳು[ಬದಲಾಯಿಸಿ]

ನೂಪಿಯ [೧] Archived 2010-08-22 ವೇಬ್ಯಾಕ್ ಮೆಷಿನ್ ನಲ್ಲಿ., ನೂಪಿಯ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ ಬ್ಲಾಗ್
ಬೆಳಕು ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶನದಲ್ಲಿ ಮೈಲಿಗಲ್ಲು, ನೇಚರ್ ಪಬ್ಲೀಷಿಂಗ್
ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳಲ್ಲಿ FAQ Archived 2009-04-04 ವೇಬ್ಯಾಕ್ ಮೆಷಿನ್ ನಲ್ಲಿ.
ನಿಕೋನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ U, ನಿಕೋನ್ ನಿಂದ ಟುಟೋರಿಯಲ್ಸ್
ಮೋಲಿಕ್ಯುಲರ್ ಎಕ್ಸ್ ಪ್ರೆಷನ: : ಎಕ್ಸ್ ಪ್ಲೋರಿಂಗ್ ದಿ ವಾಲ್ಡ್ ಆಫ್ ಆಪ್ಟಿಕಲ್ಸ್ ಎಂಡ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ , ಫ್ಲೋರಿಡಾ ಸ್ಟೇಟ್ ವಿಶ್ವವಿದ್ಯಾಲಯ.
ಬಿದಿರಿನಲ್ಲಿ ಮಾಡಿರುವ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕ Nature.com ನಲ್ಲಿ
ಆಡಿಯೋ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕ ಗ್ಲಾಸರಿ

[1] "Microscopes: Time Line". Nobel Web AB. Retrieved 2010-01-27.

[2] Gould, Stephen Jay (2000). "Chapter 2: The Sharp-Eyed Lynx, Outfoxed by Nature". The Lying Stones of Marrakech: Penultimate Reflections in Natural History. New York, N.Y: Harmony. ISBN 0-224-05044-3.

[Wootton-3] ೩.೦ ^೩.೧ ^೩.೨ Wootton, David (2006). Bad medicine: doctors doing harm since Hippocrates. Oxford [Oxfordshire]: Oxford University Press. ISBN 0-19-280355-7.

[4] Morita S (2006). Roadmap of Scanning Probe Microscopy. NanoScience and Technology. Berlin: Springer. ISBN 3-540-34314-8.

[5] Majumdar A (1999). "Scanning Thermal Microscopy". Annual Review of Materials Science. 29: 505–85.^{[ಶಾಶ್ವತವಾಗಿ ಮಡಿದ ಕೊಂಡಿ]}

[6] ಇದು ಕಡಿಮೆ ವೆಚ್ಚದಲ್ಲಿ ಕಾಗದ ಬಳಸಿ ರೂಪಿಸಿದ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ ‘ಫೋಲ್ಡ್‌ಸ್ಕೋಪ್’

[೧]

[೨]

[೩]

[೪]

[೫]

[೬]