ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕ

Microscope
	ಚಿತ್ರ:Optical microscope nikon alphaphot +.jpg
Uses	Small sample observation
Notable experiments	Discovery of cells
Inventor	Hans Lippershey; Zacharias Janssen
Related items	Electron microscope

ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕವು (Greek: μικρός , ಮೈಕ್ರೋಸ್ , "ಸೂಕ್ಷ್ಮ" ಮತ್ತು σκοπεῖν, ಸ್ಕೋಪೆನ್ , "ವೀಕ್ಷಿಸು" ಅಥವಾ "ನೋಡು" ನಿಂದ) ಬರಿಯ ಕಣ್ಣಿಗೆ ಕಾಣಿಸದ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ವಸ್ತುಗಳನ್ನು ನೋಡಲು ಬಳಸುವ ಉಪಕರಣವಾಗಿದೆ. ಈ ಉಪಕರಣವನ್ನು ಉಪಯೋಗಿಸಿ ಸಣ್ಣ ವಸ್ತುಗಳನ್ನು ಪರೀಕ್ಷಿಸುವ ವಿಜ್ಞಾನಕ್ಕೆ (ವಿಧಾನಕ್ಕೆ) ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶನ (ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ) ಎಂದು ಕರೆಯಲಾಗುತ್ತದೆ. ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕೀಯ (ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿಕ್) ಎಂದರೆ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕದ ಸಹಾಯವಿಲ್ಲದೇ ಕಣ್ಣಿಗೆ ಕಾಣಿಸದಿರುವುದು.

ದ್ಯುತಿ, ಧ್ವನಿ ಅಥವಾ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನಿಕ್ ವಿಧಾನಗಳಿಂದ ಬಿಂಬೋತ್ಪತ್ತಿ ಮಾಡಲಾಗುತ್ತದೆ. ನೇರವಾಗಿ ಅಥವಾ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನಿಕ್ ಸಂಸ್ಕರಣೆಗೊಳಪಡಿಸಿ ಅಥವಾ ಎರಡರ ಯುಕ್ತ ಸಂಯೋಜನೆಯಿಂದ ಉತ್ಪಾದಿತ ಬಿಂಬದ ವೀಕ್ಷಣೆ ಮಾಡಲಾಗುತ್ತದೆ. ನೇರವಾಗಿ ವಸ್ತುವಿನ ಬಿಂಬೋತ್ಪಾದನೆ ಆಗಬಹುದು; ವಸ್ತುವಿನ ಕ್ರಮವೀಕ್ಷಣೆಯಿಂದ (ಸ್ಕ್ಯಾನ್) ಬಿಂಬ ನಿರ್ಮಾಣವೂ ಆಗಬಹುದು. ವಸ್ತುವಿನ ಎಷ್ಟು ಪಟ್ಟು ವರ್ಧಿತ ಬಿಂಬವನ್ನು ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ ಉತ್ಪಾದಿಸಬಲ್ಲದು ಎಂಬುದನ್ನು ಸೂಚಿಸುವ ಸಂಖ್ಯೆ ಅದರ ವರ್ಧನ ಸಾಮರ್ಥ್ಯ (ಮ್ಯಾಗ್ನಿಫೈಯಿಂಗ್ ಪವರ್). ಇದೊಂದು ಏಕಮಾನವಿಲ್ಲದ ನಿಷ್ಪತ್ತಿ. ವೀಕ್ಷಿಸಬಹುದಾದ ಸೂಕ್ಷ್ಮವಿವರದ ಗಾತ್ರದ ಅಳತೆಯೇ ಅದರ ಪೃಥಕ್ಕರಣ ಸಾಮರ್ಥ್ಯ (ರಿಸಾಲ್ವಿಂಗ್ ಪವರ್). ರೇಖೀಯ ಏಕಮಾನದಲ್ಲಿ (ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಮಿಮೀ ಗಳಲ್ಲಿ) ಇದನ್ನು ಸೂಚಿಸುವದು ವಾಡಿಕೆ.

ಇತಿಹಾಸ

ಅಜ್ಞಾತ ವ್ಯಕ್ತಿಯಿಂದ ‘ಓದುವ ಕಲ್ಲು’ ಎಂಬ ಹೆಸರಿನ ಗಾಜಿನಗೋಲದ ಉಪಜ್ಞೆಯಾಯಿತು (ಸು. ಕ್ರಿ.ಶ 1000). ನಂತರ ಸ್ಯಾಲ್ವಿನೊ ಡಿ ಆರ‍್ಮಟೆ ಎಂಬಾತನಿಂದ ಧಾರಣಯೋಗ್ಯ ಕನ್ನಡಕಗಳ ಉಪಜ್ಞೆಯಾಯಿತು (ಸು. 1284). ಮೊದಲಿನ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕವನ್ನು 1590ರಲ್ಲಿ ನೆದರ್‌ಲ್ಯಾಂಡ್ಸ್ ಮಿಡಲ್‍ಬರ್ಗ್‌ನಲ್ಲಿ ಸಿದ್ಧಪಡಿಸಲಾಯಿತು.^[೧] ಕನ್ನಡಕ ತಯಾರಿಸುವ ಇಬ್ಬರಿಗೆ ಈ ಖ್ಯಾತಿ ಸಲ್ಲುತ್ತದೆ: ಹ್ಯಾನ್ಸ್ ಲಿಪ್ಪರ್‌ಶೆ (ಮೊದಲಿನ ದೂರದರ್ಶಕ (ಟೆಲಿಸ್ಕೋಪ್) ವನ್ನು ಕಂಡುಹಿಡಿದವನು) ಮತ್ತು ಹ್ಯಾನ್ಸ್ ಜಾನ್‍ಸೆನ್ ಕೂಡ ಇದಕ್ಕೆ ಭಾಜನನಾಗಿದ್ದಾನೆ. ಮಸೂರಗಳನ್ನು ಯುಕ್ತ ಜೋಡಣೆಯುಳ್ಳ ಕೊಳವೆಯ ಮೂಲಕ ವಸ್ತುಗಳನ್ನು ನೋಡಿದರೆ ಅವು ದೊಡ್ಡದಾಗಿ ಕಾಣುತ್ತವೆ ಎಂಬುದನ್ನು ಇವರು ಉಪಜ್ಞಿಸಿದರು. ಜಿಯೋವಾನ್ನಿ ಫ್ಯಾಬರ್ ಗೆಲಿಲಿಯೋ ಗೆಲಿಲೈನ ಸಂಯುಕ್ತ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಕ್ಕೆ 1625 ರಲ್ಲಿ ನಾಮಕರಣ ಮಾಡಿದನು.^[೨] (ಗೆಲಿಲಿಯೋ ಇದನ್ನು "ಒಕಿಒಲಿನೋ " ಅಥವಾ "ಪುಟ್ಟಕಣ್ಣು" ಎಂದು ಕರೆದಿದ್ದನು.)

ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕದ ಸಹಾಯದಿಂದ ಕಂಡುಹಿಡಿಯಲಾದ ಜೀವಂತ ಅಂಗಾಂಶದ ಮೊಟ್ಟ ಮೊದಲ ಒಳಗಿನ ರಚನೆಯ ವಿವರ 1664 ರ ವರೆಗೆ ಕಾಣಿಸಿರಲಿಲ್ಲ. ಆಗ ಗಿಯಾಮ್‍ಬಟಿಸ್ಟ ಒಡಿಅರ್ನಾರ ಅಲ್ ಒಚಿಯೋ ಡೆಲ್ಲಾ ಮೊಸ್ಕ ಅಥವಾ ದ ಫ್ಲೈಸ್ ಐ ನಲ್ಲಿ ಕಾಣಿಸಿಕೊಂಡಿತು.^[೩]

ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕವನ್ನು ಇಟಲಿ, ಹಾಲಂಡ್, ಇಂಗ್ಲೆಂಡ್‍ನಲ್ಲಿ 1660 ರ ದಶಕ ಮತ್ತು 1670 ರ ದಶಕದವರೆಗೆ ವ್ಯಾಪಕವಾಗಿ ಬಳಸಿರಲಿಲ್ಲ. ಇಟಲಿಯಲ್ಲಿ ಮಾರ್ಸೆಲೊ ಮಾಲ್‍ಪಿಘಿ ಎಂಬುವನು ಜೀವವಿಜ್ಞಾನದ ರಚನೆಗಳ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯನ್ನು ಶ್ವಾಸಕೋಶದಿಂದ ಪ್ರಾರಂಭಿಸಿದ. ಅದರ ಪರಿಣಾಮಕಾರಿ ಸಚಿತ್ರ ವಿವರಣೆಗಳ ಕಾರಣದಿಂದ ರಾಬರ್ಟ್ ಹುಕ್‍ನ ಮೈಕ್ರೋಗ್ರಾಫಿಯಾ ಅಗಾಧ ಪ್ರಭಾವ ಬೀರಿತು. ಆಂಟೋನಿ ವ್ಯಾನ್ ಲೀವೆನ್‍ಹೋಕ್ ಕೆಂಪು ರಕ್ತ ಕಣಗಳು ಮತ್ತು ರೇತ್ರಾಣು (ಸ್ಪರ್ಮಾಟೋಸೋಯಾ) ಗಳನ್ನು ಕಂಡುಹಿಡಿದು, ಅತ್ಯಂತ ದೊಡ್ಡ ಕೊಡುಗೆಯನ್ನು ನೀಡಿದ. ಅಕ್ಟೋಬರ್ 9 1676 ರಲ್ಲಿ ಲೀವೆನ್‍ಹೋಕ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮಜೀವಿಗಳ (ಮೈಕ್ರೋ ಆರ್ಗ್ಯಾನಿಸಮ್) ಆವಿಷ್ಕಾರವನ್ನು ಬಹಿರಂಗಪಡಿಸಿದನು.^[೩]

ಮೊದಲು ಕಂಡುಹಿಡಿದ ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕ (ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪ್) ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದ ಅತ್ಯಂತ ಸಾಮಾನ್ಯ ಬಗೆಯಾಗಿದೆ. ಇದು ಒಂದು ದೃಗ್ ಉಪಕರಣ (ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಇನ್‍ಸ್ಟ್ರುಮೆಂಟ್) ವಾಗಿದೆ. ಒಂದು ಅಥವಾ ಅದಕ್ಕಿಂತ ಹೆಚ್ಚು ಮಸೂರಗಳನ್ನು ಹೊಂದಿದೆ. ಅಲ್ಲದೇ ಮಸೂರದ ನಾಭಿಸಮತಲದಲ್ಲಿ ಇಟ್ಟಿರುವ ವಸ್ತುವನ್ನು ದೊಡ್ಡ ರೂಪದಲ್ಲಿ ತೋರಿಸುತ್ತದೆ.

ವರ್ಣವಿಪಥನ ಪ್ರಮಾಣ ಕಡಿಮೆ ಮಾಡುವುದು ಮುಂತಾದ ಅನೇಕ ತಾಂತ್ರಿಕ ಸುಧಾರಣೆಗಳಿಂದಾಗಿ ವಿಜ್ಞಾನಿಗಳಿಂದ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಕ್ಕೆ ಮಾನ್ಯತೆ ಸಿಕ್ಕಿತು (18ನೆಯ ಶತಮಾನ). ಅನೇಕ ದುರ್ಬಲ ಮಸೂರಗಳ ಯುಕ್ತ ಸಂಯೋಜನೆಯಿಂದ ಗೋಳೀಯ ವಿಪಥನದ ಪ್ರಮಾಣ ಕಡಿಮೆ ಮಾಡಬಹುದೆಂದು ಜೋಸೆಫ್ ಜ್ಯಾಕ್ಸನ್ ಲಿಸ್ಟರ್ (1786-1869) ಸಾಧಿಸಿ ತೋರಿಸಿದ್ದು (1830). ಅರ್ನ್ಸ್ಟ್ ಅಬ್ಬೆ (1840-1905) ಎಂಬಾತನಿಂದ ಗರಿಷ್ಠ ಪೃಥಕ್ಕರಣ ಸಾಧಿಸಲು ನೆರವಾಗುವ ‘ಅಬ್ಬೆ ಸೈನ್ ಕಂಡೀಶನ್’ ಎಂಬ ಗಣಿತೀಯ ಸೂತ್ರದ ಆವಿಷ್ಕಾರ (1872). ರಸಾಯನವಿಜ್ಞಾನ ನೊಬೆಲ್ ಪ್ರಶಸ್ತಿ ವಿಜೇತ (1925) ರಿಚರ್ಡ್ ಸಿಗ್ಮಾಂಡಿಯಿಂದ (1865-1929) ಬೆಳಕಿನ ಅಲೆಯುದ್ದಕ್ಕಿಂತ ಚಿಕ್ಕ ವಸ್ತುಗಳನ್ನು ಅಧ್ಯಯಿಸಬಲ್ಲ ಅಧಿಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದ ನಿರ್ಮಾಣ (1903). ಭೌತಜ್ಞಾನ ನೊಬೆಲ್ ಪ್ರಶಸ್ತಿ ವಿಜೇತ (1953) ಫ್ರಿಟ್ಸ್ ಝೆರ್ನೈಕ್‌ನಿಂದ (1888-1966) ಪ್ರಾವಸ್ಥೆ ವೈದೃಶ್ಯ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದ ಉಪಜ್ಞೆ (1932). ಭೌತವಿಜ್ಞಾನ ನೊಬೆಲ್ ಪ್ರಶಸ್ತಿ ವಿಜೇತ (1986) ಅರ್ನ್‌ಸ್ಟ್ ರುಸ್ಕ (1906-1988) ಮತ್ತು ಸಹವರ್ತಿಗಳಿಂದ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದ ಉಪಜ್ಞೆ (1931). ಭೌತವಿಜ್ಞಾನ ನೊಬೆಲ್ ಪ್ರಶಸ್ತಿ ವಿಜೇತರಾದ (1986) ಜೆರ್ಡ್ ಬಿನ್ನಿಗ್ (ಜ. 1947) ಮತ್ತು ಹೆಯಿನ್‌ರಿಚ್ ರ‍್ಹೋರೆರ್‌ರಿಂದ (ಜ.1933) ಕ್ರಮಲೋಕಿಸುವ ಸುರಂಗಕೊರೆಯುವ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದ ಉಪಜ್ಞೆ (1981).

ವಿಧಗಳು

"ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳನ್ನು" ದೃಗ್ ಸಿದ್ಧಾಂತದ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳು (ಬೆಳಕಿನ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ) ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳು (ಉದಾಹರಣೆಗೆ TEM) ಮತ್ತು ಶೋಧನ ಅನ್ವೇಷಕ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳು (ಉದಾಹರಣೆಗೆ SPM) ಇತ್ಯಾದಿಗಳಾಗಿ ವಿಂಗಡಿಸಬಹುದು. ಮಾದರಿಯಿಂದ ತರಂಗ ಹಾದು ಹೋಗುವ ಮೂಲಕ ರೂಪಿಸಿದ ಚಿತ್ರವನ್ನು ದೊಡ್ಡದಾಗಿ ಕಾಣುವ ಹಾಗೆ ಮಾಡಲು ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳು ಮಸೂರಗಳ ದೃಗ್(ದೃಷ್ಟಿ) ಸಿದ್ಧಾಂತದ ಮೂಲಕ ಕಾರ್ಯನಿರ್ವಹಿಸುತ್ತವೆ. ಬಳಸಲಾದ ತರಂಗಳು ವಿದ್ಯುತ್ಕಾಂತೀಯ (ಎಲೆಕ್ಟ್ರೊಮ್ಯಾಗ್ನೇಟಿಕ್) (ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕಗಳಲ್ಲಿ) ಅಥವಾ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ದೂಲಗಳು (ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕಗಳಲ್ಲಿ) ಆಗಿರುತ್ತವೆ. ವಿಧಗಳೆಂದರೆ ಸಂಯುಕ್ತ ಹಗುರ, ಸ್ಟೀರಿಯೋ, ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನಿಕ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕಗಳು.

ದೃಗ್ವೈಜ್ಞಾನಿಕ

(ದೃಷ್ಟಿ) ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳು ಬೆಳಕಿನ ಗೋಚರ ತರಂಗದೂರಗಳನ್ನು ಬಳಸುತ್ತವೆ ಮತ್ತು ಅತ್ಯಂತ ಸರಳ ಹಾಗೂ ಅತಿ ಹೆಚ್ಚಾಗಿ ಉಪಯೋಗಿಸಲ್ಪಡುತ್ತವೆ. ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳು ವಕ್ರೀಕಾರಕ ಮಸೂರವನ್ನು ಮತ್ತು ಸಾಂದರ್ಭಿಕವಾಗಿ ಪ್ಲಾಸ್ಟಿಕ್ ಅಥವಾ ಸ್ಫಟಿಕವನ್ನು ಹೊಂದಿರುತ್ತವೆ. ಇವುಗಳಿಂದ ಬೆಳಕನ್ನು ಕಣ್ಣಿನಲ್ಲಿ ಅಥವಾ ಬೇರೊಂದು ಬೆಳಕು ಪತ್ತೆ ಹಚ್ಚುವ ಸಾಧನದಲ್ಲಿ ಕೇಂದ್ರಿಕರಿಸುತ್ತವೆ. ಕನ್ನಡಿ ಆಧಾರಿತ ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳೂ ಕೂಡ ಇದೆ ರೀತಿಯಲ್ಲಿ ಕಾರ್ಯ ನಿರ್ವಹಿಸುತ್ತವೆ. ಬೆಳಕಿನ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕದ ಸಾಮಾನ್ಯ ವರ್ಧಿಸುವಿಕೆಯು 1500x ವರೆಗಿದ್ದು ಗೋಚರ ವ್ಯಾಪ್ತಿಯ ಬೆಳಕನ್ನು ಭಾವಿಸಿಕೊಳ್ಳುತ್ತದೆ. ಇದರ ಸೈದ್ಧಾಂತಿಕ ಪೃಥಕ್ಕರಣ ಸಾಮರ್ಥ್ಯದ ಪರಿಮಿತಿ 200 ನ್ಯಾನೋಮೀಟರ್ಸ್ ಅಥವಾ 0.2 ಮೈಕ್ರೋಮೀಟರ್ಸ್ ವರೆಗೆ ಇರುತ್ತದೆ. ವಿಶೇಷೀಕೃತ ತಂತ್ರಗಳು (ಉದಾಹರಣೆಗೆ ಶೋಧನ ಸಂನಾಭೀಯ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶನ, ವರ್ಟಿಕೊ SMI); ಈ ವರ್ಧನೆಯನ್ನು ಮೀರಬಹುದು, ಆದರೆ ಪೃಥಕ್ಕರಣವು ವಿವರ್ತನೆಯಿಂದ ಸೀಮಿತವಾಗಿರುತ್ತದೆ. ಅತಿನೇರಳೆಯಂತಹ ಬೆಳಕಿನ ಕಡಿಮೆ ತರಂಗದೂರಗಳನ್ನು ಬಳಸುವುದು ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದ ದೈಶಿಕ ವಿವರ್ತನೆಯನ್ನು ಹೆಚ್ಚಿಸುವ ಒಂದು ರೀತಿಯಾಗಿದೆ, ಸಮೀಪ ಕ್ಷೇತ್ರದ ಪ್ರದೇಶದ ಶೋಧನ ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದಂತಹ ಸಾಧನಗಳು ಕೂಡ.

ಅಲ್ಪ ನಾಭಿಯುದ್ದದ ದ್ವಿಪೀನ ಮಸೂರವೇ ಸರಳ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ. 1-10 ವ್ಯಾಪ್ತಿಯ ವರ್ಧನ ಸಾಮರ್ಥ್ಯವುಳ್ಳ ಇವುಗಳಿಂದ ಸು. 0.01ಮಿಮೀ ವರೆಗಿನ ಪೃಥಕ್ಕರಣ ಸಾಧ್ಯ. ಆದರೂ ಒಂದಕ್ಕಿಂತ ಹೆಚ್ಚು ದೃಕ್‌ಘಟಕಗಳುಳ್ಳ ಸಂಯುಕ್ತ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳ ಬಳಕೆ ಸಾರ್ವತ್ರಿಕ. 2.5-1000 ವ್ಯಾಪ್ತಿಯ ವರ್ಧನ ಸಾಮರ್ಥ್ಯವುಳ್ಳ ಇವು 0.01-0.0002 ಮಿಮೀ ಪೃಥಕ್ಕರಣ ಒದಗಿಸಬಲ್ಲವು.

ಸಂಯುಕ್ತ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ: ವಸ್ತುಕ (ಆಬ್‌ಜೆಕ್ಟಿವ್) ಮತ್ತು ನೇತ್ರಕ (ಐ ಪೀಸ್) ಎಂಬ ಎರಡು ಮಸೂರ ವ್ಯವಸ್ಥೆಗಳು ವಿರುದ್ಧ ತುದಿಗಳಲ್ಲಿರುವ ಕೊಳವೆ ಸಂಯಕ್ತ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದ ಪ್ರಧಾನ ಘಟಕ. ಕನಿಷ್ಠ ಎರಡು ಮಸೂರಗಳ ಸಂಯೋಜಿತ ಘಟಕ ವಸ್ತುಕ. ವೀಕ್ಷಿತ ವಸ್ತುವಿನ ವರ್ಧಿತ ನಿಜ ಬಿಂಬೋತ್ಪಾದನೆ ಇದರ ಕಾರ್ಯ. ನಿಜ ಬಿಂಬದ ವರ್ಧಿತ ಮಿಥ್ಯ ಬಿಂಬೋತ್ಪಾದನೆ ನೇತ್ರಕದ ಕಾರ್ಯ. ಒಂದು ನೇತ್ರಕವುಳ್ಳದ್ದು ಏಕನೇತ್ರೀಯ (ಮಾನಾಕ್ಯುಲರ್), ಎರಡು ಉಳ್ಳದ್ದು ದ್ವಿನೇತ್ರೀಯ (ಬೈನಾಕ್ಯುಲರ್) ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ. ಎರಡೂ ಮಸೂರ ವ್ಯವಸ್ಥೆಗಳ ನಾಭಿಯುದ್ದಗಳು ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದ ವರ್ಧನ ಸಾಮರ್ಥ್ಯದ ನಿರ್ಧಾರಕಗಳು. ವೀಕ್ಷಿಸಬೇಕಾದ ವಸ್ತುವನ್ನು ಸ್ಥಿರವಾಗಿ ಹಿಡಿದಿಡಬಲ್ಲ ವೇದಿಕೆ, ಮಸೂರ ವ್ಯವಸ್ಥೆಗಳುಳ್ಳ ಕೊಳವೆಯನ್ನು ಹಿಂದಕ್ಕೂ ಮುಂದಕ್ಕೂ ಚಲಿಸುವ ವ್ಯವಸ್ಥೆಯೂ ಉಂಟು. ಗಾಜಿನ ತೆಳು ಫಲಕದ ಮೇಲೆ ನಮೂನೆಯನ್ನಿಟ್ಟು ಅದರ ಮೂಲಕ ಬೆಳಕನ್ನು ಹಾಯಿಸಿ ವೀಕ್ಷಿಸುವದು ಸಾಮಾನ್ಯ. ಇದಕ್ಕಾಗಿ, ನಮೂನೆಯತ್ತ ಬೆಳಕನ್ನು ಬೀರಬಲ್ಲ ವ್ಯವಸ್ಥೆಯೂ ಉಂಟು. ವರ್ಧಿತ ಬಿಂಬದ ಛಾಯಾಚಿತ್ರ ಪಡೆಯಲು ನೆರವಾಗುವ ಕ್ಯಾಮೆರವನ್ನು ನೇತ್ರಕದೊಂದಿಗೆ ಸಂಯೋಜಿಸಿರುವ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳಿವೆ. ಸಂಶೋಧಕರು ಬಳಸುವ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳಲ್ಲಿ ಮೈಕ್ರೊಮೀಟರ್ ತಿರುಪುಗಳ ನೆರವಿನಿಂದ ವೇದಿಕೆಯನ್ನು ಚಲಿಸುವ ಮತ್ತು ಆವರ್ತಿಸುವ ವ್ಯವಸ್ಥೆಯೊಂದಿಗೆ ಮೂರು ಅಥವಾ ಹೆಚ್ಚು ವಸ್ತುಕಗಳಿರುತ್ತವೆ.

ಸರ್‌ಫಸ್ ಹೊಸದಾದ ದೃಗ್ ತಂತ್ರವಾಗಿದೆ. ಇದು ನ್ಯಾನೋಮೆಟ್ರಿಕ್ ಪೊರೆಗಳನ್ನು (0.3 ಗೆ ನ್ಯಾನೋಮೀಟರ್‌ನಷ್ಟು ಕಡಿಮೆ) ಮತ್ತು ಪ್ರತ್ಯೇಕಿತ ನ್ಯಾನೋ ವಸ್ತುಗಳನ್ನು(2 ನ್ಯಾ.ಮೀ. ನಷ್ಟು ವ್ಯಾಸದಷ್ಟು ಕಡಿಮೆ) ನೇರವಾಗಿ ನೋಡಲು ಸಾಧ್ಯವಾಗಿಸುವ ಮೂಲಕ ಉತ್ತಮ ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದ ಸೂಕ್ಷ್ಮತೆಯನ್ನು ಹೆಚ್ಚಿಸುತ್ತದೆ. ಈ ತಂತ್ರವು ವಿರುದ್ಧ-ಧ್ರುವೀಕರಿಸಿ ಪ್ರತಿಫಲಿಸಿದ ಬೆಳಕಿನ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದೂರದರ್ಶನಕ್ಕಾಗಿ ಪ್ರತಿಫಲಿಸದ ತಲಾಧಾರದ ಬಳಕೆಯ ಮೇಲೆ ನಿಂತಿದೆ.

ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕೀಯ ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳ ಪೃಥಕ್ಕರಣವನ್ನು ನೇರಳಾತೀತ ಬೆಳಕು ಸಾಧ್ಯವಾಗಿಸುತ್ತದೆ. ಉದಾಹರಣೆಗೆ ಕಣ್ಣಿಗೆ ಪಾರದರ್ಶಕವಾದ ಮಾದರಿಗಳನ್ನು ಚಿತ್ರಿಸಲು. ಅವರಕ್ತ ಸಮೀಪದ ಬೆಳಕು ಕೂಡಿಸಿದ ಸಿಲಿಕಾನ್ ಸಾಧನಗಳಲ್ಲಿ ನೆಟ್ಟಿರುವ ವಿದ್ಯುನ್ಮಂಡಲವನ್ನು ಚಿತ್ರಿಸುತ್ತದೆ. ಏಕೆಂದರೆ ಈ ಪ್ರದೇಶದಲ್ಲಿ ಸಿಲಿಕಾನ್ ಪಾರದರ್ಶಕವಾಗಿರುತ್ತದೆ. ನೇರಳಾತೀತದಿಂದ ಹಿಡಿದು ಕಣ್ಣಿಗೆ ಕಾಣುವ ಬೆಳಕಿನವರೆಗಿನ ಅನೇಕ ತರಂಗದೂರಗಳನ್ನು ಕಣ್ಣಿನಿಂದ ನೋಡಲು ಅಥವಾ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ಕ್ಯಾಮರಾಗಳಿಂದ ನೋಡುವಂತೆ ವಸ್ತುಗಳಿಂದ ಪ್ರತಿದೀಪ್ತಿ ಉತ್ಸರ್ಜನೆಯನ್ನು ಪ್ರಚೋದಿಸುತ್ತದೆ.

ಅವಸ್ಥಾ ವೈದೃಶ್ಯ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶನವು ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶನದ ದೀಪನ (ಇಲ್ಯೂಮಿನೆಷನ್) ವಿಧಾನವಾಗಿದೆ. ಪಾರದರ್ಶಕ ನಮೂನೆಯಲ್ಲಿ ಹರಿಯುವ ಬೆಳಕಿನಲ್ಲಿ ಸಣ್ಣ ಅವಸ್ಥಾ ಪಲ್ಲಟಗಳನ್ನು ವೈಶಾಲ್ಯವಾಗಿ ಅಥವಾ ಚಿತ್ರದಲ್ಲಿ ವೈದೃಶ್ಯ ಬದಲಾವಣೆಯಾಗಿ ಬದಲಾಗುತ್ತದೆ. ರಚನೆ ಸ್ಪಷ್ಟವಾಗಿ ಕಾಣುವಂತೆ ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಭಾಗಕ್ಕೆ ಬಣ್ಣ ಕೂಡಿಸುವುದು ಅವಸ್ಥಾ ವೈದೃಶ್ಯ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಕ್ಕೆ ಅವಶ್ಯಕವಲ್ಲ. ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕವು ಜೀವಕೋಶ ಆವರ್ತವನ್ನು ಅಧ್ಯಯನ ಮಾಡುವಂತೆ ಮಾಡಿತು.

ಸಾಂಪ್ರದಾಯಿಕ ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕಗಳನ್ನು ಇತ್ತೀಚೆಗಷ್ಟೇ ಅಂಕೀಯ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳಾಗಿ ಬದಲಾಯಿಸಲಾಗಿದೆ. ಇಲ್ಲಿ ವಸ್ತುವನ್ನು ನೇರವಾಗಿ ನೋಡುವ ಬದಲು, ವಿದ್ಯುದಾವೇಶ ಸಂಯೋಜಿತ ಸಾಧನ(CCD) ಚಿತ್ರವನ್ನು ದಾಖಲಿಸಲು ಉಪಯೋಗಿಸಲಾಗುವುದರಿಂದ ಕಂಪ್ಯೂಟರ್ ಮಾನಿಟರ್‌ನಲ್ಲಿ ತೋರಿಸಲ್ಪಡುತ್ತದೆ.

ವಿಶೇಷೋದ್ದೇಶ ದೃಗ್ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳು

ಇವು ವಿಶಿಷ್ಟ ಲಕ್ಷಣಗಳಿರುವ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳು. ಉದಾ:

ಘನರೂಪದರ್ಶೀ (ಸ್ಟೀರಿಯೊಸ್ಕೋಪಿಕ್) ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ: ಮೂರು ಆಯಾಮಗಳುಳ್ಳ ಬಿಂಬೋತ್ಪಾದನೆಗಾಗಿ ಏಕಕಾಲದಲ್ಲಿ ಒಂದು ನಮೂನೆಯನ್ನು ನಾಭಿಸ್ಥಗೊಳಿಸಬಲ್ಲ ಎರಡು ಅಲ್ಪ ಸಾಮರ್ಥ್ಯದ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳ ಸಂಯೋಜನೆ.
ಅತಿನೇರಳೆ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ: ರೋಹಿತದ ಅತಿನೇರಳೆ ಭಾಗದ ಅಲೆಯುದ್ದಗಳನ್ನು ಉಪಯೋಗಿಸುತ್ತದೆ. ಬೆಣಚು, ಫ್ಲೂರೈಟ್ ಅಥವಾ ಅಲ್ಯೂಮಿನೀಕೃತ ದರ್ಪಣದ ದೃಕ್‌ಘಟಕಗಳಿರುತ್ತವೆ. ಸ್ಫುರದೀಪ್ತಿ ಛಾಯಾಚಿತ್ರೀಕರಣ ಅಥವಾ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನಿಕ್ ಕ್ರಮವೀಕ್ಷಣೆಯ ನೆರವಿನಿಂದ ದೃಶ್ಯ ಬಿಂಬೋತ್ಪಾದನೆ. ವೈದ್ಯವಿಜ್ಞಾನ ಸಂಶೋಧನೆಗಳಲ್ಲಿ ಬಳಕೆ.
ಶಿಲಾವರ್ಣನ (ಪೆಟ್ರೊಗ್ರ್ಯಾಫಿಕ್) ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ: ಅಗ್ನಿ ಮತ್ತು ರೂಪಾಂತರಿತಶಿಲೆಗಳಲ್ಲಿ ಖನಿಜ ಘಟಕಗಳನ್ನು ಗುರುತಿಸಲು ಮತ್ತು ಅವುಗಳ ಪ್ರಮಾಣ ಅಂದಾಜಿಸಲು ಬಳಕೆ. ನಿಕಲ್ ಅಶ್ರಗ ಅಥವಾ ಇತರ ಯಾವುದಾದರೂ ಸಾಧನದಿಂದ ಧ್ರುವೀಕರಿಸಿದ ಬೆಳಕಿನಲ್ಲಿ ನಮೂನೆಯ ಪರೀಕ್ಷೆ. ಇನ್ನೊಂದು ನಿಕಲ್ ಅಶ್ರಗ ಅಥವಾ ವಿಶ್ಲೇಷಕದ ನೆರವಿನಿಂದ ನಮೂನೆಯಿಂದಾದ ಧ್ರುವೀಕರಣದ ಮತ್ತು ಆವರ್ತಿಸುವ ವೇದಿಕೆಯ ನೆರವಿನಿಂದ ಧ್ರುವೀಕರಣ ಬದಲಾವಣೆಯ ನಿರ್ಧಾರ.
ಕಪ್ಪುಕ್ಷೇತ್ರ (ಡಾರ್ಕ್ ಫೀಲ್ಡ್) ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ: ನಮೂನೆಯ ಮೇಲೆ ಕೇಂದ್ರೀಕೃತವಾಗುವ ಅತಿ ತೀವ್ರ ಬೆಳಕಿನ ಟೊಳ್ಳು ಶಂಕುವಿನಿಂದ ದೀಪನ ವ್ಯವಸ್ಥೆ. ವಸ್ತುಕದ ದೃಶ್ಯಕ್ಷೇತ್ರವು ಶಂಕುವಿನ ಕಪ್ಪು ಟೊಳ್ಳು ಭಾಗದಲ್ಲಿದ್ದು ವಸ್ತು ಚದುರಿಸಿದ ಬೆಳಕನ್ನು ಮಾತ್ರ ಗ್ರಹಿಸುತ್ತದೆ. ತತ್ಪರಿಣಾಮವಾಗಿ, ವೀಕ್ಷಿತ ಅತಿಸೂಕ್ಷ್ಮ ಭಾಗಗಳು ಕಪ್ಪು ಹಿನ್ನೆಲೆಯಲ್ಲಿ ಪ್ರಕಾಶಮಾನವಾಗಿ ಹೊಳೆಯುತ್ತವೆ. ಪ್ರಸಾಮಾನ್ಯ ದೀಪನದಲ್ಲಿ ವೀಕ್ಷಿಸಲಾಗದಷ್ಟು ಪುಟ್ಟ ವಸ್ತುಗಳ ಮತ್ತು ಅನಭಿರಂಜಿತ (ಅನ್‌ಸ್ಟೇಯ್ನ್‌ಡ್) ಪಾರಕ ಜೈವಿಕ ವಸ್ತುಗಳ ವೀಕ್ಷಣೆಗೆ ಈ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ ಉಪಯುಕ್ತ.
ಪ್ರಾವಸ್ಥೆ (ಫ಼ೇಸ್) ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ: ಇದರ ದೀಪನ ವ್ಯವಸ್ಥೆಯೂ ಬೆಳಕಿನ ಟೊಳ್ಳು ಶಂಕುವೇ ಆಗಿದೆ. ಬೆಳಕಿನ ಶಂಕು ಕಿರಿದಾಗಿದ್ದು ವಸ್ತುಕದ ದೃಶ್ಯಕ್ಷೇತ್ರವನ್ನು ಪ್ರವೇಶಿಸುವುದು ಇದರ ಒಂದು ವಿಶಿಷ್ಟತೆ. ಬೆಳಕಿನ ತೀವ್ರತೆಯನ್ನು ಕಡಿಮೆ ಮಾಡಿ ಅಲೆಯುದ್ದದ ¼ ಭಾಗದಷ್ಟು ಪ್ರಾವಸ್ಥೆ ಪಲ್ಲಟನ (ಶಿಫ್ಟ್) ಉಂಟುಮಾಡುವ ರಿಂಗಿನಾಕೃತಿಯ ಸಾಧನವೊಂದು ವಸ್ತುಕದಲ್ಲಿ ಇರುವದು ಇನ್ನೊಂದು ವಿಶಿಷ್ಟತೆ. ಇಂಥ ದೀಪನ ವ್ಯವಸ್ಥೆ ಪಾರಕ ವಸ್ತುವಿನ ವಕ್ರೀಭವನಾಂಕವನ್ನು ಅತ್ಯಲ್ಪ ಪ್ರಮಾಣದಲ್ಲಿ ಬದಲಿಸಿ ತನ್ಮೂಲಕ ಅದು ದೃಗ್ಗೋಚರವಾಗುವಂತೆ ಮಾಡುತ್ತದೆ. ಜೀವಂತ ಊತಕಗಳ ವೀಕ್ಷಣೆಗೆ ಇದು ಉಪಯುಕ್ತ.
ಸಮೀಪ ಕ್ಷೇತ್ರ (ನಿಯರ್ ಫೀಲ್ಡ್) ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ: ದೀಪಿಸುವ ಬೆಳಕಿನ ಅಲೆಯುದ್ದಕ್ಕಿಂತ ಕೊಂಚ ಚಿಕ್ಕದಾದ ವಿವರಗಳನ್ನು ವೀಕ್ಷಿಸಲು ಉಪಯುಕ್ತ.

ಸಂನಾಭೀ (ಕನ್‌ಫೋಕಲ್) ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ

ಲೇಸರ್ ಬೆಳಕಿನ ಉಪಯೋಗ ಇದರ ವಿಶಿಷ್ಟತೆ. ಕ್ರಮಲೋಕಿಸುವ ದರ್ಪಣಗಳನ್ನು ಉಪಯೋಗಿಸಿ ಲೇಸರ್ ಬೆಳಕಿನಿಂದ ನಮೂನೆಯನ್ನು ಅಡ್ಡಡ್ಡಲಾಗಿ ಕ್ರಮಲೋಕಿಸಿ ಅಂಕಾತ್ಮಕ (ಡಿಜಿಟಲ್) ಗಣಕದ ಪರದೆಯ ಮೇಲೆ ಬಿಂಬ ಮೂಡಿಸುತ್ತದೆ. ಪ್ರತಿಫಲನ ಅಥವಾ ಪ್ರತಿದೀಪ್ತಿಯಿಂದ ದಪ್ಪನೆಯ ನಮೂನೆಗಳನ್ನು ಸಪಾಟಾದ ತೆಳು ದೃಕ್‌ಹಲ್ಲೆಗಳಾಗಿ ಛೇದಿಸಬಲ್ಲದು. ದೃಷ್ಟಿರೇಖೆಗೆ ಸಮಾಂತರದಲ್ಲಿರುವ, ಸಮತಲದಲ್ಲಿರುವ ನಮೂನೆಹಲ್ಲೆಗಳನ್ನೂ ವೀಕ್ಷಿಸಬಲ್ಲದು. ಅತ್ಯುಚ್ಚ ಪೃಥಕ್ಕರಣವುಳ್ಳ 3 ಆಯಾಮಗಳ ಬಿಂಬ ಸೃಷ್ಟಿಸುತ್ತದೆ.

ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್

ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನುಗಳ ಅಲೆಯುದ್ದ ದೃಶ್ಯಬೆಳಕಿನ ಅಲೆಯುದ್ದಕ್ಕಿಂತ ಬಹುಪಟ್ಟು ಕಡಿಮೆ (ದೃಶ್ಯ ಬೆಳಕಿನ ಅತ್ಯಂತ ಕಡಿಮೆ ಅಲೆಯುದ್ದ ಸು. 4000 ಆಂಗ್‌ಸ್ಟ್ರಾಮ್. ಈ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದಲ್ಲಿ ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಉಪಯೋಗಿಸುವ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನುಗಳ ಅಲೆಯುದ್ದವಾದರೋ ಸು. 0.5 ಆಂಗ್‌ಸ್ಟ್ರಾಮ್). ಎಂದೇ, ಅವು ದೃಶ್ಯಬೆಳಕಿನಿಂದ ಪೃಥಕ್ಕರಿಸಲಾಗದ ಅತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ವಿವರಗಳನ್ನು ಪೃಥಕ್ಕರಿಸಬಲ್ಲವು.

ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನುಗಳನ್ನು ಉತ್ಸರ್ಜಿಸುವ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಕೋವಿ, ಅವನ್ನು ನಿರ್ದೇಶಿಸಿ ನಾಭೀಕರಿಸಬಲ್ಲ ಕಾಂತಕ್ಷೇತ್ರಗಳು, ಅತ್ಯುಚ್ಚ ನಿರ್ವಾತ ಕೊಳವೆ, ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನುಗಳು ಉತ್ಪಾದಿಸುವ ಬಿಂಬವನ್ನು ದಾಖಲಿಸಿ ಪ್ರದರ್ಶಿಸುವ ವ್ಯವಸ್ಥೆ – ಇವು ಎಲ್ಲ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳ ಪ್ರಸಾಮಾನ್ಯ ಮೂಲ ಘಟಕಗಳು.ಅಲ

ಪ್ರಮುಖ ಮೂರು ವಿಭಿನ್ನ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳಿವೆ:

ಶೋಧನ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ (SEM): ನವುರಾದ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ದೂಲದ ಮತ್ತು ಪಾರದರ್ಶಕತೆಯನ್ನು ಅಳೆಯುವ ಮೂಲಕ ಮೇಲ್ಮೈ ಶೋಧಿಸಿ ವಸ್ತುವಿನ ಮೇಲ್ಮೈಯನ್ನು ನೋಡುವುದು. ಇದನ್ನು ರೋಹಿತದರ್ಶನ (ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಟ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ) ಕ್ಕೂ ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ.
ಸಂವಹನ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ (TEM): ಮಾದರಿಯ ಮೂಲಕ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‍ಗಳನ್ನು ಸಂಪೂರ್ಣವಾಗಿ ಸಾಗಿಸುತ್ತದೆ. ಇದು ಮೂಲಭೂತ ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶನವನ್ನು ಹೋಲುವಂತಿದೆ. ಇಲ್ಲಿ ಬಹು ಮಟ್ಟಿನ ಎಲ್ಲಾ ವಸ್ತುಗಳಲ್ಲಿ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‍ಗಳು ಚದರುವುದರಿಂದ ಎಚ್ಚರಿಕೆಯಿಂದ ಮಾದರಿಯನ್ನು ತಯಾರಿಸಬೇಕು. ಇದೊಂದು ವೈಜ್ಞಾನಿಕ ಸಾಧನವಾಗಿದೆ. ಇದು ಬರಿಕಣ್ಣಿನಿಂದ ಕಾಣಲು ಸಾಧ್ಯವಿಲ್ಲದ ಮತ್ತು ಕಣ್ಣಿನ ಸಾಧನವಿಲ್ಲದೇ ವಸ್ತುವನ್ನು ನೋಡಲು ಅವಕಾಶಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತದೆ.

ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ದೂಲ ನಮೂನೆಯನ್ನು ತಾಕಿದಾಗ ಕೆಲವು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನುಗಳು ಪುಟಿದು ಎತ್ತೆತ್ತಲೋ ಹೋಗುತ್ತವೆ. ಕೆಲವನ್ನು ನಮೂನೆ ಅಪಶೋಷಿಸುತ್ತದೆ. ಉಳಿದವು ನಮೂನೆಯ ಮೂಲಕ ಹಾಯ್ದು ಅದರ ವರ್ಧಿತ ಬಿಂಬವನ್ನು ರೂಪಿಸುತ್ತವೆ. ಈ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದಲ್ಲಿ ನಮೂನೆಯ ಅತ್ಯಂತ ತೆಳು ಹಾಲೆಯನ್ನು ಮಾತ್ರ ವೀಕ್ಷಿಸಬಹುದು (ಪ್ರಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಕೆಲವು ಸಹಸ್ರ ಆಂಗ್‌ಸ್ಟ್ರಾಮ್‌ಗಿಂತ ದಪ್ಪವಿರಕೂಡದು). ನಮೂನೆಯ ಮತ್ತೊಂದು ಪಾರ್ಶ್ವದಲ್ಲಿ ಇರುವ ಫೋಟೋಗ್ರಾಫಿಕ್ ಫಲಕ ಅಥವಾ ಪ್ರತಿದೀಪ್ತಿ ಪರದೆಯ ಮೇಲೆ ವರ್ಧಿತ ಬಿಂಬ ದಾಖಲಾಗುತ್ತದೆ. ನಮೂನೆಯ ಒಂದು ಮಿಲಿಯ ಪಟ್ಟು ವರ್ಧಿತ ಬಿಂಬ ಪಡೆಯಬಹುದು.

ಶೋಧನ ತೂರಿಹೋಗುವ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ (STM): ಇದು ಮೇಲ್ಮೈಯನ್ನು ಪರಮಾಣು ಹಂತದಲ್ಲಿ ನೋಡಲು ಇರುವಂತಹ ಶಕ್ತಿಶಾಲಿ ತಾಂತ್ರಿಕ ವಿಧಾನವಾಗಿದೆ.
ಕ್ರಮಲೋಕಿಸುವ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ: ಬಿಗಿಯಾಗಿ ನಾಭೀಕರಿಸಿದ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ದೂಲ ನಮೂನೆಯ ಮೇಲ್ಮೈಯನ್ನು ಕೊಂಚಕೊಂಚವಾಗಿ ಕ್ರಮಲೋಕಿಸಿ ಅದರ ಮೂರು ಆಯಾಮಗಳ ವರ್ಧಿತ ಬಿಂಬ ಮೂಡಿಸುತ್ತದೆ. ಇದರಲ್ಲಿ ನಮೂನೆ ತೆಳುವಾಗಿರಲೇ ಬೇಕೆಂದಿಲ್ಲ. ಸು. 100,000 ಪಟ್ಟು ವರ್ಧಿತ ಬಿಂಬ ಉತ್ಪಾದಿಸಬಲ್ಲದು.

SEM ಮತ್ತು STMಗಳನ್ನು ಶೋಧನ ಅನ್ವೇಷಕ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶನಕ್ಕೂ ಉದಾಹರಣೆಯಾಗಿ ಪರಿಗಣಿಸಬಹುದು.

ಶೋಧನ ಅನ್ವೇಷಕ

AFM, ಆಟೋಮಿಕ್ ಫೋರ್ಸ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
BEEM, ಬ್ಯಾಲಿಸ್ಟಿಕ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಎಮಿಷನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
EFM, ಎಲೆಕ್ಟ್ರೋ ಸ್ಟ್ಯಾಟಿಕ್ ಫೋರ್ಸ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪ್
ESTM ಎಲೆಕ್ಟ್ರೋಕೆಮಿಕಲ್ ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಟನಲಿಂಗ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪ್
FMM, ಫೋರ್ಸ್ ಮಾಡ್ಯೂಲೇಷನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
KPFM, ಕೆಲ್ವಿನ್ ಪ್ರೋಬ್ ಫೋರ್ಸ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
MFM, ಮ್ಯಾಗ್ನೆಟಿಕ್ ಫೋರ್ಸ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
MRFM, ಮ್ಯಾಗ್ನೆಟಿಕ್ ರೆಸೊನೆನ್ಸ್ ಫೋರ್ಸ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
NSOM, ನಿಯರ್-ಫೀಲ್ಡ್ ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ (or SNOM, ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ನಿಯರ್-ಫೀಲ್ದ್ ಆಪ್ಟಿಕಲ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ)
PFM, ಪೈಜೊ ಫೋರ್ಸ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
PSTM, ಫೋಟಾನ್ ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಟನಲಿಂಗ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
PTMS, ಪೋಟೋತರ್ಮಲ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ/ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
SAP, ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಆಟಮ್ ಪ್ರೋಬ್^[೪]
SECM, ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರೋಕೆಮಿಕಲ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
SCM, ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಕೆಪಾಸಿಟೆನ್ಸ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
SGM, ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಗೇಟ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
SICM, ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಐಅನ್-ಕಂಡಕ್ಟೆನ್ಸ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
SPSM ಸ್ಪಿನ್ ಪೋಲರೈಸ್ಡ್ ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಟನಲಿಂಗ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
SThM, ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಥರ್ಮಲ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ^[೫]
STM, ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಟನಲಿಂಗ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
SVM, ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ವೊಲ್ಟೇಜ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
SHPM, ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಹಾಲ್ ಪ್ರೋಬ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ
SSM, ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಸ್ಕ್ವೆಯ್ಡೆ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ

ಈ ವಿಧಾನಗಳಲ್ಲಿ AFM ಮತ್ತು STM ಗಳನ್ನು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಉಪಯೋಗಿಸಲಾಗುವುದು. ಅಲ್ಲದೇ ಇದು MFM ಮತ್ತು SNOM/NSOM ಗಳಿಂದ ಅನುಸರಿಸಲ್ಪಡುವುದು.

೨೦೧೮ ರ ಹೊಸ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕ ಅವಿಷ್ಕಾರ

ಫೋಲ್ಡ್‍ ಸ್ಕೋಪ್‍ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕ: ಪಾಲಿ–ಪ್ರೊಪಿಲೀನ್ ಪದರವನ್ನು ಒಳಗೊಂಡ ಕಾಗದದ ‘ಫೋಲ್ಡ್‌ಸ್ಕೋಪ್’, ದೊಡ್ಡ ಹಾಳೆಯ ರೂಪದಲ್ಲಿರುತ್ತದೆ. ಅದರೊಂದಿಗೆ ನೀಡಿರುವ ಸೂಚನೆಗಳನ್ನು ಅನುಸರಿಸಿ, ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದ ವಿವಿಧ ಭಾಗಗಳನ್ನು ಬಿಡಿಸಿಕೊಂಡು ಕ್ರಮವಾಗಿ ಜೋಡಿಸಿದರೆ ‘ಫೋಲ್ಡ್‌ಸ್ಕೋಪ್’ ಸಿದ್ಧವಾಗುತ್ತದೆ.ಇದು ಕಡಿಮೆ ವೆಚ್ಚದಲ್ಲಿ ಕಾಗದ ಬಳಸಿ ರೂಪಿಸಿದ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ. ^[೬]

ಇತರೆ

ಶೋಧನ ಶ್ರವಣ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕಗಳು ಶ್ರವಣ ರೋಧತ್ವ(ಇಮ್‍ಪೆಡೆನ್ಸ್)ದಲ್ಲಿ ವ್ಯತ್ಯಾಸವನ್ನು ಮಾಪನ ಮಾಡಲು ಶಬ್ದ ತರಂಗವನ್ನು ಬಳಸುತ್ತವೆ. ಜಲಾಂತರ ಶಬ್ದ ಶೋಧ(ಸೋನಾರ್)ದಂತೆಯೇ ಅವುಗಳನ್ನು ಅನುಕಲಿತ ಸರ್ಕೀಟು (ಇಂಟಿಗ್ರೇಟೆಡ್ ಸರ್ಕೀಟ್) ನಲ್ಲಿ ಸಿಗುವಂತಹ ವಸ್ತುಗಳನ್ನು ಸೇರಿಸಿದಂತೆ ವಸ್ತುಗಳ ಉಪ ಮೇಲ್ಮೈನಲ್ಲಿ ಇರುವ ನ್ಯೂನತೆ ಕಂಡುಹಿಡಿಯಲು ಬಳಸಲಾಗುವುದು.

ಇದನ್ನೂ ನೋಡಿ

ಸಸ್ಯ ವಿಜ್ಞಾನದ ಅಧ್ಯಯನ ಮಾರ್ಗದರ್ಶಿ ವಿಕಿಬುಕ್ಸ್ ನಲ್ಲಿ:ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶನದ ಪ್ರಯೋಗಾಲಯ
ದೂರದರ್ಶಕ

ಉಲ್ಲೇಖಗಳು

↑ "Microscopes: Time Line". Nobel Web AB. Retrieved 2010-01-27.
↑ Gould, Stephen Jay (2000). "Chapter 2: The Sharp-Eyed Lynx, Outfoxed by Nature". The Lying Stones of Marrakech: Penultimate Reflections in Natural History. New York, N.Y: Harmony. ISBN 0-224-05044-3.
↑ ^೩.೦ ^೩.೧ Wootton, David (2006). Bad medicine: doctors doing harm since Hippocrates. Oxford [Oxfordshire]: Oxford University Press. ISBN 0-19-280355-7.
↑ Morita S (2006). Roadmap of Scanning Probe Microscopy. NanoScience and Technology. Berlin: Springer. ISBN 3-540-34314-8.
↑ Majumdar A (1999). "Scanning Thermal Microscopy". Annual Review of Materials Science. 29: 505–85.
↑ ಇದು ಕಡಿಮೆ ವೆಚ್ಚದಲ್ಲಿ ಕಾಗದ ಬಳಸಿ ರೂಪಿಸಿದ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ ‘ಫೋಲ್ಡ್‌ಸ್ಕೋಪ್’

ಬಾಹ್ಯ ಕೊಂಡಿಗಳು

ನೂಪಿಯ [೧] Archived 2010-08-22 ವೇಬ್ಯಾಕ್ ಮೆಷಿನ್ ನಲ್ಲಿ., ನೂಪಿಯ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ ಬ್ಲಾಗ್
ಬೆಳಕು ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶನದಲ್ಲಿ ಮೈಲಿಗಲ್ಲು, ನೇಚರ್ ಪಬ್ಲೀಷಿಂಗ್
ದ್ಯುತಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳಲ್ಲಿ FAQ Archived 2009-04-04 ವೇಬ್ಯಾಕ್ ಮೆಷಿನ್ ನಲ್ಲಿ.
ನಿಕೋನ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ U, ನಿಕೋನ್ ನಿಂದ ಟುಟೋರಿಯಲ್ಸ್
ಮೋಲಿಕ್ಯುಲರ್ ಎಕ್ಸ್ ಪ್ರೆಷನ: : ಎಕ್ಸ್ ಪ್ಲೋರಿಂಗ್ ದಿ ವಾಲ್ಡ್ ಆಫ್ ಆಪ್ಟಿಕಲ್ಸ್ ಎಂಡ್ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ , ಫ್ಲೋರಿಡಾ ಸ್ಟೇಟ್ ವಿಶ್ವವಿದ್ಯಾಲಯ.
ಬಿದಿರಿನಲ್ಲಿ ಮಾಡಿರುವ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕ Nature.com ನಲ್ಲಿ
ಆಡಿಯೋ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ದರ್ಶಕ ಗ್ಲಾಸರಿ

[1] "Microscopes: Time Line". Nobel Web AB. Retrieved 2010-01-27.

[2] Gould, Stephen Jay (2000). "Chapter 2: The Sharp-Eyed Lynx, Outfoxed by Nature". The Lying Stones of Marrakech: Penultimate Reflections in Natural History. New York, N.Y: Harmony. ISBN 0-224-05044-3.

[Wootton-3] ೩.೦ ^೩.೧ Wootton, David (2006). Bad medicine: doctors doing harm since Hippocrates. Oxford [Oxfordshire]: Oxford University Press. ISBN 0-19-280355-7.

[4] Morita S (2006). Roadmap of Scanning Probe Microscopy. NanoScience and Technology. Berlin: Springer. ISBN 3-540-34314-8.

[5] Majumdar A (1999). "Scanning Thermal Microscopy". Annual Review of Materials Science. 29: 505–85.

[6] ಇದು ಕಡಿಮೆ ವೆಚ್ಚದಲ್ಲಿ ಕಾಗದ ಬಳಸಿ ರೂಪಿಸಿದ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ ‘ಫೋಲ್ಡ್‌ಸ್ಕೋಪ್’

[೧]

[೨]

[೩]

[೪]

[೫]

[೬]