ಚಿತ್ರ:Fib tem sample.jpg

Page contents not supported in other languages.
ವಿಕಿಪೀಡಿಯದಿಂದ, ಇದು ಮುಕ್ತ ಹಾಗೂ ಸ್ವತಂತ್ರ ವಿಶ್ವಕೋಶ

ಮೂಲ ಕಡತ ‎(೧,೦೨೪ × ೮೦೦ ಚಿತ್ರಬಿಂದು, ಫೈಲಿನ ಗಾತ್ರ: ೨೦೫ KB, MIME ಪ್ರಕಾರ: image/jpeg)

ಸಾರಾಂಶ

ವಿವರ
English: SEM micrograph of a wide-bandgap semiconductor prepared for TEM by focused-ion-beam milling.
Deutsch: SEM-Bild eines Halbleiters der fuer Aufnahmen im TEM mit einer FIB praepariert wurde.
ದಿನಾಂಕ
ಆಕರ English wikipedia
ಕರ್ತೃ english User:Cm the p


ಪರವಾನಗಿ

w:en:Creative Commons
ವೈಶಿಷ್ಟ್ಯ ಇರುವುದರಂತೆಯೇ ಹಂಚು 		ಈ ಕಡತ ಕ್ರಿಯೇಟಿವ್ ಕಾಮನ್ಸ್ Attribution -Share Alike 3.0 Unported ಪರವಾನಗಿ ಹೊಂದಿದೆ. Subject to disclaimers.
ನೀವು ಮುಕ್ತ:
  • ಹಂಚಿಕೆಗೆ – ಕೆಲಸವನ್ನು ನಕಲು ಮಾಡಲು, ವಿತರಣೆ ಮತ್ತು ಸಾಗಿಸಲು
  • ರೀಮಿಕ್ಸ್ ಮಾಡಲು – ಕೆಲಸವನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಳ್ಳಲು
ಈ ಕೆಳಗಿನ ಷರತ್ತುಗಳಲ್ಲಿ:
  • ವೈಶಿಷ್ಟ್ಯ – ನೀವು ಸೂಕ್ತವಾದ ಕ್ರೆಡಿಟ್ ನೀಡಬೇಕು, ಪರವಾನಗಿಗೆ ಲಿಂಕ್ ಅನ್ನು ಒದಗಿಸಬೇಕು ಮತ್ತು ಯಾವುದೇ ಬದಲಾವಣೆಗಳನ್ನು ಮಾಡಿದ್ದರೆ ಸೂಚಿಸಬೇಕು. ನೀವು ಯಾವುದೇ ಸಮಂಜಸವಾದ ರೀತಿಯಲ್ಲಿ ಮಾಡಬಹುದು, ಆದರೆ ಪರವಾನಗಿದಾರರು ನಿಮ್ಮನ್ನು ಅಥವಾ ನಿಮ್ಮ ಯಾವುದೇ ಬಳಕೆಯನ್ನು ಅನುಮೋದಿಸಿದಂತೆ ರೀತಿಯಲ್ಲಿ ಉಪಯೋಗಿಸಬಾರದು.
  • ಇರುವುದರಂತೆಯೇ ಹಂಚು – ನೀವು ರೀಮಿಕ್ಸ್ ಮಾಡಿದರೆ, ರೂಪಾಂತರಗೊಳಿಸಿದರೆ ಅಥವಾ ವಸ್ತುವಿನ ಮೇಲೆ ನಿರ್ಮಿಸಿದರೆ, ನಿಮ್ಮ ಕೊಡುಗೆಗಳನ್ನು ನೀವು ಮೂಲದಂತೆ ಅದೇ ಅಥವಾ ಹೊಂದಾಣಿಕೆಯ ಪರವಾನಗಿ ಅಡಿಯಲ್ಲಿ ವಿತರಿಸಬೇಕು.
This licensing tag was added to this file as part of the GFDL licensing update.
GNU head GNU ಉಚಿತ ಡಾಕ್ಯುಮೆಂಟೇಶನ್ ಪರವಾನಗಿ, ಆವೃತ್ತಿಯ ನಿಯಮಗಳ ಅಡಿಯಲ್ಲಿ ಈ ಡಾಕ್ಯುಮೆಂಟ್ ಅನ್ನು ನಕಲಿಸಲು, ವಿತರಿಸಲು ಮತ್ತು/ಅಥವಾ ಮಾರ್ಪಡಿಸಲು ಅನುಮತಿಯನ್ನು ನೀಡಲಾಗಿದೆ. 1.2 ಅಥವಾ ಯಾವುದೇ ನಂತರದ ಆವೃತ್ತಿಯನ್ನು ಉಚಿತ ಸಾಫ್ಟ್‌ವೇರ್ ಫೌಂಡೇಶನ್ ಪ್ರಕಟಿಸಿದೆ; ಯಾವುದೇ ಅಸ್ಥಿರ ವಿಭಾಗಗಳಿಲ್ಲದೆ, ಮುಖ ಪಠ್ಯಗಳಿಲ್ಲ ಮತ್ತು ಹಿಂದಿನ ಕವರ್ ಪಠ್ಯಗಳಿಲ್ಲ. ಪರವಾನಗಿಯ ಪ್ರತಿಯನ್ನು GNU ಉಚಿತ ಡಾಕ್ಯುಮೆಂಟೇಶನ್ ಪರವಾನಗಿ ಎಂಬ ವಿಭಾಗದಲ್ಲಿ ಸೇರಿಸಲಾಗಿದೆ. Subject to disclaimers.

Captions

Add a one-line explanation of what this file represents

Items portrayed in this file

depicts ಇಂಗ್ಲಿಷ್

copyright status ಇಂಗ್ಲಿಷ್

copyrighted ಇಂಗ್ಲಿಷ್

ಉಪಕ್ರಮ

೯ ಮಾರ್ಚ್ 2006

MIME type ಇಂಗ್ಲಿಷ್

image/jpeg

ಕಡತದ ಇತಿಹಾಸ

ದಿನ/ಕಾಲ ಒತ್ತಿದರೆ ಆ ಸಮಯದಲ್ಲಿ ಈ ಕಡತದ ವಸ್ತುಸ್ಥಿತಿ ತೋರುತ್ತದೆ.

ದಿನ/ಕಾಲಕಿರುನೋಟಆಯಾಮಗಳುಬಳಕೆದಾರಟಿಪ್ಪಣಿ
ಪ್ರಸಕ್ತ೨೦:೦೬, ೩ ಫೆಬ್ರವರಿ ೨೦೦೭೨೦:೦೬, ೩ ಫೆಬ್ರವರಿ ೨೦೦೭ ವರೆಗಿನ ಆವೃತ್ತಿಯ ಕಿರುನೋಟ೧,೦೨೪ × ೮೦೦ (೨೦೫ KB)EdC{{Information |Description=SEM micrograph of a wide-bandgap semiconductor prepared for TEM by focused-ion-beam milling. |Source=English wikipedia |Date=9 March 2006 |Author=english User:Cm the p |Permission= |other_versions= }} [[category:Focused Ion Bea

ಈ ಕೆಳಗಿನ ಪುಟವು ಈ ಚಿತ್ರಕ್ಕೆ ಸಂಪರ್ಕ ಹೊಂದಿದೆ:

ಜಾಗತಿಕ ಕಡತ ಉಪಯೋಗ

ಈ ಕಡತವನ್ನು ಕೆಳಗಿನ ಬೇರೆ ವಿಕಿಗಳೂ ಉಪಯೋಗಿಸುತ್ತಿವೆ:

ಮೇಲ್ದರ್ಜೆ ಮಾಹಿತಿ

ಈ ಫೈಲಿನಲ್ಲಿ ಹೆಚ್ಚಿನ ಮಾಹಿತಿ ಇದೆ. ಪ್ರಾಯಶಃ ಫೈಲನ್ನು ಸೃಷ್ಟಿಸಲು ಉಪಯೋಗಿಸಲಾದ ಡಿಜಿಟಲ್ ಕ್ಯಾಮೆರದಿಂದ ಅಥವ ಸ್ಕ್ಯಾನರ್ ಇಂದ ಈ ಮಾಹಿತಿ ಸೇರಿಸಲ್ಪಟ್ಟಿದೆ.

ಮೂಲಪ್ರತಿಯಿಂದ ಈ ಫೈಲು ಮಾರ್ಪಾಟಾಗಿದ್ದಲ್ಲಿ, ಈ ಮಾಹಿತಿ ಮಾರ್ಪಟ್ಟ ಫೈಲಿನ ವಿವರಗಳಿಗೆ ಸರಿಯಾಗಿ ಹೊಂದದೆ ಇರಬಹುದು.

"https://kn.wikipedia.org/wiki/ಚಿತ್ರ:Fib_tem_sample.jpg" ಇಂದ ಪಡೆಯಲ್ಪಟ್ಟಿದೆ