Kikuchi lines in a convergent beam diffraction pattern of single crystal silicon taken with a 300 keV electron beam tilted 7.9 degrees away from the [100] zone along the (004) Kikuchi band. The camera length of this image, taken with a Philips EM430ST microscope and recorded on Kodak electron image film, was approximately 518 mm.
ದಿನಾಂಕ
ಆಕರ
ಸ್ವಂತ ಕೆಲಸ
ಕರ್ತೃ
P. Fraundorf
ಪರವಾನಗಿ
I, the copyright holder of this work, hereby publish it under the following licenses:
GNU ಉಚಿತ ಡಾಕ್ಯುಮೆಂಟೇಶನ್ ಪರವಾನಗಿ, ಆವೃತ್ತಿಯ ನಿಯಮಗಳ ಅಡಿಯಲ್ಲಿ ಈ ಡಾಕ್ಯುಮೆಂಟ್ ಅನ್ನು ನಕಲಿಸಲು, ವಿತರಿಸಲು ಮತ್ತು/ಅಥವಾ ಮಾರ್ಪಡಿಸಲು ಅನುಮತಿಯನ್ನು ನೀಡಲಾಗಿದೆ. 1.2 ಅಥವಾ ಯಾವುದೇ ನಂತರದ ಆವೃತ್ತಿಯನ್ನು ಉಚಿತ ಸಾಫ್ಟ್ವೇರ್ ಫೌಂಡೇಶನ್ ಪ್ರಕಟಿಸಿದೆ; ಯಾವುದೇ ಅಸ್ಥಿರ ವಿಭಾಗಗಳಿಲ್ಲದೆ, ಮುಖ ಪಠ್ಯಗಳಿಲ್ಲ ಮತ್ತು ಹಿಂದಿನ ಕವರ್ ಪಠ್ಯಗಳಿಲ್ಲ. ಪರವಾನಗಿಯ ಪ್ರತಿಯನ್ನು GNU ಉಚಿತ ಡಾಕ್ಯುಮೆಂಟೇಶನ್ ಪರವಾನಗಿ ಎಂಬ ವಿಭಾಗದಲ್ಲಿ ಸೇರಿಸಲಾಗಿದೆ.http://www.gnu.org/copyleft/fdl.htmlGFDLGNU Free Documentation Licensetruetrue
ಹಂಚಿಕೆಗೆ – ಕೆಲಸವನ್ನು ನಕಲು ಮಾಡಲು, ವಿತರಣೆ ಮತ್ತು ಸಾಗಿಸಲು
ರೀಮಿಕ್ಸ್ ಮಾಡಲು – ಕೆಲಸವನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಳ್ಳಲು
ಈ ಕೆಳಗಿನ ಷರತ್ತುಗಳಲ್ಲಿ:
ವೈಶಿಷ್ಟ್ಯ – ನೀವು ಸೂಕ್ತವಾದ ಕ್ರೆಡಿಟ್ ನೀಡಬೇಕು, ಪರವಾನಗಿಗೆ ಲಿಂಕ್ ಅನ್ನು ಒದಗಿಸಬೇಕು ಮತ್ತು ಯಾವುದೇ ಬದಲಾವಣೆಗಳನ್ನು ಮಾಡಿದ್ದರೆ ಸೂಚಿಸಬೇಕು. ನೀವು ಯಾವುದೇ ಸಮಂಜಸವಾದ ರೀತಿಯಲ್ಲಿ ಮಾಡಬಹುದು, ಆದರೆ ಪರವಾನಗಿದಾರರು ನಿಮ್ಮನ್ನು ಅಥವಾ ನಿಮ್ಮ ಯಾವುದೇ ಬಳಕೆಯನ್ನು ಅನುಮೋದಿಸಿದಂತೆ ರೀತಿಯಲ್ಲಿ ಉಪಯೋಗಿಸಬಾರದು.
ಇರುವುದರಂತೆಯೇ ಹಂಚು – ನೀವು ರೀಮಿಕ್ಸ್ ಮಾಡಿದರೆ, ರೂಪಾಂತರಗೊಳಿಸಿದರೆ ಅಥವಾ ವಸ್ತುವಿನ ಮೇಲೆ ನಿರ್ಮಿಸಿದರೆ, ನಿಮ್ಮ ಕೊಡುಗೆಗಳನ್ನು ನೀವು ಮೂಲದಂತೆ ಅದೇ ಅಥವಾ ಹೊಂದಾಣಿಕೆಯ ಪರವಾನಗಿ ಅಡಿಯಲ್ಲಿ ವಿತರಿಸಬೇಕು.
{{Information |Description=Kikuchi lines in a convergent beam diffraction pattern of single crystal silicon taken with a 300 keV electron beam tilted 7.9 degrees away from the [100] zone along the (004) Kikuchi band. The camera length of this image, take